材質(zhì)	金屬材料
產(chǎn)地	江蘇南通
類型	現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試
加印LOGO	可以
貨源類別	現(xiàn)貨
品牌	無(wú)損檢測(cè)- NDT
加工定制	是

超聲波檢測(cè)（UT）

超聲波探傷原理：超聲波是一種機(jī)械波，機(jī)械振動(dòng)與波動(dòng)是超聲波探傷的物流基礎(chǔ)。物體沿著直線或者曲線在某個(gè)平衡位置附近作往復(fù)周期性的運(yùn)動(dòng)，稱為機(jī)械振動(dòng)。振動(dòng)的傳播過(guò)程，稱為波動(dòng)。波動(dòng)分為機(jī)械波和電磁波兩個(gè)大類。機(jī)械波是機(jī)械振動(dòng)在彈性介質(zhì)中的傳播過(guò)程。超聲波**是一種機(jī)波。超聲波探傷是利用超聲能透入金屬材料的深處，并由一截面進(jìn)入另一截面時(shí)，在界面邊緣發(fā)生反射的特點(diǎn)來(lái)檢查零件缺陷的一種方法，當(dāng)超聲波束自零件表面由探頭通至金屬內(nèi)部，遇到缺陷與零件底面時(shí)**分別發(fā)生反射波，在熒光屏上形成脈沖波形，根據(jù)這些脈沖波形來(lái)判斷缺陷位置和大小。 超聲波探傷分類：超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)有多種波型，檢驗(yàn)中常用的為縱波、橫波、表面波和板波。用縱波可探測(cè)金屬鑄錠、坯料、中厚板、大型鍛件和形狀比較簡(jiǎn)單的制件中所存在的夾雜物、裂縫、縮管、白點(diǎn)、分層等缺陷；用橫波可探測(cè)管材中的周向和軸向裂縫、劃傷、焊縫中的氣孔、夾渣、裂縫、未焊透等缺陷；用表面波可探測(cè)形狀簡(jiǎn)單的鑄件上的表面缺陷；用板波可探測(cè)薄板中的缺陷。 超聲波探傷優(yōu)點(diǎn)：探傷比X射線探傷具有較高的探傷靈敏度、周期短、成本低、靈活方便、效率高，對(duì)人體無(wú)害等優(yōu)點(diǎn)；超聲波探傷適合于厚度較大的零件檢驗(yàn)。

適用范圍：

焊縫表面缺陷檢查。檢查焊縫表面裂紋、未焊透及焊漏等焊接質(zhì)量。  內(nèi)腔檢查。檢查表面裂紋、起皮、拉線、劃痕、凹坑、凸起、斑點(diǎn)、腐蝕等缺陷。 狀態(tài)檢查。當(dāng)某些產(chǎn)品(如蝸輪泵、發(fā)動(dòng)機(jī)等)工作后，按技術(shù)要求規(guī)定的項(xiàng)目進(jìn)行內(nèi)窺檢測(cè)。  裝配檢查。當(dāng)有要求和需要時(shí)，使用亞泰光電工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡對(duì)裝配質(zhì)量進(jìn)行檢查;裝配或某一工序完成后，檢查各零部組件裝配位置是否符合圖樣或技術(shù)條件的要求;是否存在裝配缺陷。  多余物檢查。檢查產(chǎn)品內(nèi)腔殘余內(nèi)屑，外來(lái)物等多余物。

(1)—次反射法檢測(cè)，探頭移動(dòng)區(qū)域?qū)挾却笥诘扔?.25P(1.25倍跨距)
(2)直射法檢測(cè)，探頭移動(dòng)區(qū)域?qū)挾却笥诘扔?.75P (O.75倍跨距)
P=2*K*T或
P=2*T*tanp
例1:工件厚度T=25mm，采用K2探頭—次反射法檢測(cè)（二次回波法)，掃查寬度計(jì)算如下:
探頭掃查寬度=1.25xP;
P=2x25x2=100mm;
探頭掃查寬度=1.25×100=125mm
例2:工件厚度T=80mm，采用K1探頭直射法檢測(cè)(—次回波法)，掃查寬度計(jì)算如下:
探頭掃查寬度=0.75xP;
P=2x80x1=160mm;
探頭掃查寬度=0.75×160=120mm
參考標(biāo)準(zhǔn)NB/T47013.3-2015《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè)》6.3.5.1條。

磁粉探傷（MT）

      磁粉探傷利用工件缺陷處的漏磁場(chǎng)與磁粉的相互作用，它利用了鋼鐵制品表面和近表面缺陷（如裂紋，夾渣，發(fā)紋等）磁導(dǎo)率和鋼鐵磁導(dǎo)率的差異，磁化后這些材料不連續(xù)處的磁場(chǎng)將發(fā)生崎變，形成部分磁通泄漏處工件表面產(chǎn)生了漏磁場(chǎng)，從而吸引磁粉形成缺陷處的磁粉堆積——磁痕，在適當(dāng)?shù)墓庹諚l件下，顯現(xiàn)出缺陷位置和形狀，對(duì)這些磁粉的堆積加以觀察和解釋**實(shí)現(xiàn)了磁粉探傷。磁粉探傷，是通過(guò)磁粉在缺陷附近漏磁場(chǎng)中的堆積以檢測(cè)鐵磁性材料表面或近表面處缺陷的一種無(wú)損檢測(cè)方法。將鋼鐵等磁性材料制作的工件予以磁化，利用其缺陷部位的漏磁能吸附磁粉的特征，依磁粉分布顯示被探測(cè)物件表面缺陷和近表面缺陷的探傷方法。該探傷方法的特點(diǎn)是簡(jiǎn)便、顯示直觀。磁粉探傷與利用霍耳元件、磁敏半導(dǎo)體元件的探傷法，利用磁帶的錄磁探傷法，利用線圈感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)探傷法同屬磁力探傷方法。

磁粉探傷種類：

按工件磁化方向的不同，可分為周向磁化法、縱向磁化法、復(fù)合磁化法和旋轉(zhuǎn)磁化法。 按采用磁化電流的不同可分為：直流磁化法、半波直流磁化法、和交流磁化法。 按探傷所采用磁粉的配制不同，可分為干粉法和濕粉法。  按照工件上施加磁粉的時(shí)間不同，可分為連續(xù)法和剩磁法。

磁粉探傷流程：

預(yù)處理  磁化 施加磁粉或磁懸液  磁痕的觀察與記錄 缺陷評(píng)級(jí) 退磁，后處理 

滲透探傷（PT）

     滲透探傷是利用毛細(xì)現(xiàn)象檢查材料表面缺陷的一種無(wú)損檢驗(yàn)方法。

       滲透探傷包括熒光法和著色法。熒光法是將含有熒光物質(zhì)的滲透液涂敷在被探傷件表面，通過(guò)毛細(xì)作用滲入表面缺陷中，然后清洗去表面的滲透液，將缺陷中的滲透液保留下來(lái)，進(jìn)行顯象。典型的顯象方法是將均勻的白色粉末撒在被探傷件表面，將滲透液從缺陷處吸出并擴(kuò)展到表面。這時(shí)，在暗處用紫外線燈照射表面，缺陷處發(fā)出明亮的熒光。著色法與熒光法相似，只是滲透液內(nèi)不含熒光物質(zhì)，而含著色染料，使?jié)B透液鮮明可見(jiàn)，可在白光或日光下檢查。一般情況下，熒光法的靈敏度高于著色法。這兩種方法都包括滲透、清洗、顯象和檢查四個(gè)基本步驟。根據(jù)從被探傷件上清洗滲透液的方法，滲透探傷的熒光法和著色法又可分別分為水洗型、后乳化型和溶劑去除型三種。常用的滲透探傷方法有著色滲透探傷、熒光滲透探傷、水洗型滲透探傷、溶劑去除滲透探傷。干式顯像滲透探傷、濕式顯像滲透探傷，實(shí)際探傷時(shí)經(jīng)常是將幾種不同方法的組合應(yīng)用。例如水洗型、溶劑去除型的滲透劑組合，既可以使用干式顯像也可以用濕式顯像。 

      滲透劑在毛細(xì)作用下，滲入表面開(kāi)口缺陷內(nèi)；在去除工件表面多余的滲透劑后，通過(guò)顯象劑的毛細(xì)作用將缺陷內(nèi)的滲透劑吸附到工件表面形成痕跡而顯示缺陷的存在，這種檢測(cè)方法稱為滲透探傷。

滲透探傷流程：

清洗,滲透探傷前，必須進(jìn)行表面清理和預(yù)清洗，清除被檢零件表面所有污染物。準(zhǔn)備工作范圍應(yīng)以探傷部位四周向外擴(kuò)展25毫米。清除污物的方法有機(jī)械方法、化學(xué)方法及溶劑去除法等。 滲透,滲透施加方法應(yīng)根據(jù)零件大小、形狀、數(shù)量和檢查部位，來(lái)選擇噴涂、刷涂、澆涂及浸涂等方法。在滲透過(guò)程中時(shí)間的長(zhǎng)短與溫度范圍對(duì)探測(cè)裂紋的靈敏度有很大影響，滲透溫度為15～50℃范圍內(nèi)時(shí)，滲透時(shí)間一般分為5～10分鐘；當(dāng)滲透溫度降低為3～15℃時(shí)應(yīng)根據(jù)溫度適當(dāng)增加滲透時(shí)間。  去除,溶劑去除型滲透劑用清洗劑去除，除了特別難于去除的場(chǎng)合外，一般都用蘸有清洗劑的布和紙擦拭；不得往復(fù)擦拭，不得將被檢件浸于清洗劑中或過(guò)量地使用清洗劑；在用水噴法清洗時(shí)，水管壓力以0.21MPa為宜，水壓不得大于0.34MPa，水溫不超過(guò)43℃。  干燥,干燥的方法有用干凈布擦干、壓縮空氣吹干、熱風(fēng)吹干、熱空氣循環(huán)烘干裝置烘干等方法。被檢物表面的干燥溫度應(yīng)控制在不大于52℃范圍內(nèi)。  顯像,顯像的過(guò)程是用顯像劑將缺陷處的滲透液吸附至零件表面，產(chǎn)生清晰可見(jiàn)的缺陷圖象。顯像時(shí)間不能太長(zhǎng)，顯像劑不能太厚，否則缺陷顯示會(huì)變模糊。顯像時(shí)間為10～30分鐘，顯像劑厚度為0.05～0.07毫米。  檢驗(yàn),觀察顯示的跡痕應(yīng)在顯像劑施加后7～30分鐘內(nèi)進(jìn)行，如顯示跡痕的大小不發(fā)生變化，則可超過(guò)上述時(shí)間。為確保檢查細(xì)微的缺陷，被檢零件上的照度至少達(dá)到350勒克斯。探傷結(jié)束后，為了防止殘留的顯像劑腐蝕被檢物表面或影響其使用，必要時(shí)應(yīng)清除顯像劑。清除方法可用刷洗、噴氣、噴水、用布或紙擦除等方法。